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        什么是光時域反射?
        來源:2018-08-09
          光時域反射儀會打入一連串的光突波進入光纖來檢驗。檢驗的方式是由打入突波的同一側接收光訊號,因為打入的訊號遇到不同折射率的介質會散射及反射回來。反射回來的光訊號強度會被量測到,并且是時間的函數,因此可以將之轉算成光纖的長度。光時域反射儀可以用來量測光纖的長度、衰減,包括光纖的熔接處及轉接處皆可量測。在光纖斷掉時也可以用來量測中斷點。OTDR動態范圍的大小對測量精度的影響初始背向散射電平與噪聲低電平的DB差值被定義為OTDR的動態范圍。其中,背向散射電平初始點是入射光信號的電平值,而噪聲低電平為背向散射信號為不可見信號。動態范圍的大小決定OTDR可測光纖的距離。當背向散射信號的電平低于OTDR噪聲時,它就成為不可見信號。隨著光纖熔接技術的發展,人們可以將光纖接頭的損耗控制在0.1DB以下,為實現對整條光纖的所有小損耗的光纖接頭進行有效觀測,人們需要大動態范圍的OTDR。增大OTDR動態范圍主要有兩個途徑:增加初始背向散射電平和降低噪聲低電平。影響初始背向散射電平的因素是光的脈沖寬度。影響噪聲低電平的因素是掃描平均時間。多數的型號OTDR允許用戶選擇注入被測光纖的光脈沖寬度參數。在幅度相同的情況下,較寬脈沖會產生較大的反射信號,即產生較高的背向散射電平,也就是說,光脈沖寬度越大,OTDR的動態范圍越大。OTDR向被測的光纖反復發送脈沖,并將每次掃描的曲線平均得到結果曲線,這樣,接收器的隨機噪聲就會隨著平均時間的加長而得到抑制。在OTDR的顯示曲線上體現為噪聲電平隨平均時間的增長而下降,于是,動態范圍會隨平均時間的增大而加大。在最初的平均時間內,動態范圍性能的改善顯著,在接下來的平均時間內,動態范圍性能的改善顯著,在接下來的平均時間內,動態范圍性能的改善會逐漸變緩,也就是說,平均時間越長,OTDR的動態范圍就越大。盲區對OTDR測量精度的影響我們將諸如活動連接器、機械接頭等特征點產生反射引起的OTDR接收端飽和而帶來的一系列“盲點”稱為盲區。光纖中的盲區分為事件盲區和衰減盲區兩種:由于介入活動連接器而引起反射峰,從反射峰的起始點到接收器飽和峰值之間的長度距離,被稱為事件盲區;光纖中由于介入活動連接器引起反射峰,從反射峰的起始點到可識別其他事件點之間的距離,被稱為衰減盲區。對于OTDR來說,盲區越小越好。盲區會隨著脈沖寬的寬度的增加而增大,增加脈沖寬度雖然增加了測量長度,但也增大了測量盲區,所以,我們在測試光纖時,對OTDR附件的光纖和相鄰事件點的測量要使用窄脈沖,而對光纖遠端進行測量時要使用寬脈沖。OTDR的“增益”現象由于光纖接頭是無源器件,所以,它只能引起損耗而不能引起“增益”。OTDR通過比較接頭前后背向散射電平的測量值來對接頭的損耗進行測量。如果接頭后光纖的散射系數較高,接頭后面的背向散射電平就可能大于接頭前的散射電平,抵消了接頭的損耗,從而引起所謂的“增益”。在這種情況下,獲得準確接頭損耗的唯一方法是:用光時域反射從被測光纖的兩端分別對該接頭進行測試,并將兩次測量結果取平均值。這就是分別對該接頭進行測試,并將兩次測量結果取平均值。這就是雙向平均測試法,是目前光纖特性測試中必須使用的方法。OTDR能否測量不同類型的光纖如果使用單模OTDR模塊對多模光纖進行測量,或使用一個多模OTDR模塊對諸如芯徑為62.5mm的單模光纖進行測量,光纖長度的測量結果不會受到影響,但諸如光纖損耗、光接頭損耗、回波損耗的結果卻都是不正確的。這是因為,光從小芯徑光纖入射到大芯徑光纖時,大芯徑不能被入射光完全充滿,于是在損耗測量上引起誤差,所以,在測量光纖時,一定要選擇與被測光纖相匹配的光時域反射進行測量,這樣才能得到各項性能指標均正確的結果。

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